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產(chǎn)品分類 / PRODUCT
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2024-07-09
2024-07-23
2025-08-11
2025-01-13
2025-05-21
描述：散斑干涉技術(shù)是一種通過(guò)對(duì)散斑干涉條紋進(jìn)行分析而獲得測(cè)結(jié)果的干涉測(cè)量方法，可測(cè)量物體形變過(guò)程中的微小位移。剪切散斑干涉技術(shù)與傳統(tǒng)直接測(cè)量位移技術(shù)不同，主要通過(guò)目標(biāo)平面自身作為參考平面 測(cè)量得到位移的空間導(dǎo)數(shù)。兩種技術(shù)都具有非接觸、全場(chǎng)同時(shí)測(cè)量、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于無(wú)損檢測(cè)、應(yīng)變測(cè)量、振動(dòng)分析等領(lǐng)域。
產(chǎn)品型號(hào)：ROE-RI07廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2026-02-05訪問(wèn)量：32
產(chǎn)品介紹/ PRODUCT PRESENTATION實(shí)驗(yàn)簡(jiǎn)介
散斑干涉技術(shù)是一種通過(guò)對(duì)散斑干涉條紋進(jìn)行分析而獲得測(cè)結(jié)果的干涉測(cè)量方法，可測(cè)量物體形變過(guò)程中的微小位移。剪切散斑干涉技術(shù)與傳統(tǒng)直接測(cè)量位移技術(shù)不同，主要通過(guò)目標(biāo)平面自身作為參考平面 測(cè)量得到位移的空間導(dǎo)數(shù)。兩種技術(shù)都具有非接觸、全場(chǎng)同時(shí)測(cè)量、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于無(wú)損檢測(cè)、應(yīng)變測(cè)量、振動(dòng)分析等領(lǐng)域。我們采用數(shù)字散斑干涉和剪切散斑干涉兩種方法來(lái)測(cè)量物體離面的微小位移，并配套測(cè)量軟件，是光電及測(cè)控專業(yè)學(xué)生掌握散斑測(cè)量技術(shù)的理想實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
數(shù)字散斑干涉光路搭建
數(shù)字散斑干涉物體離面位移測(cè)量
數(shù)字剪切散斑干涉光路搭建
數(shù)字剪切散斑干涉離面位移測(cè)量
基于相移器的包裹相位提取與相位解算實(shí)驗(yàn)
相位圖數(shù)字濾波處理與質(zhì)量評(píng)價(jià)研究實(shí)驗(yàn)
相位解包裹算法及感興趣區(qū)域（ROI）提取實(shí)驗(yàn)
基于相移器的被測(cè)物體離面位移空間梯度定量計(jì)算實(shí)驗(yàn)
基于相移器的物體表面形變 3D 視圖重構(gòu)與結(jié)果分析實(shí)驗(yàn)
基于相移器的材料內(nèi)部缺陷無(wú)損檢測(cè)（NDT）應(yīng)用實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)知識(shí)點(diǎn)
數(shù)字散斑干涉技術(shù)、數(shù)字剪切散斑干涉技術(shù)、離面位移測(cè)量、圖像相減、相關(guān)條紋、數(shù)字圖像處理技術(shù)。
實(shí)驗(yàn)效果圖
物體表面形變 3D 視圖
剪切散斑效果圖
離面散斑效果圖
實(shí)驗(yàn)原理圖
選配件
電腦
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